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WCT-120——标准离线硅片少子寿命工具
2017-06-05 15:47:52   来源:   评论:0 点击:

WCT-120——标准离线硅片少子寿命工具载流子合复寿命的最佳经过校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片产品概述WCT测试仪展示了我们独特的测试和分析技术,包括被高度认可的准稳态光电导(QSSPC)少子寿
WCT-120——标准离线硅片少子寿命工具
载流子合复寿命的最佳经过校准的测量方式,广泛应
用于太阳能单晶和多晶硅片
产品概述
WCT测试仪展示了我们独特的测试和分析技术,包
括被高度认可的准稳态光电导(QSSPC)少子寿命
测量方式,该技术由Sinton Instruments于1994年研
发成功。QSSPC技术应用在模拟多晶硅片,掺杂扩
散和低少子寿命样品方面非常理想。该方法是瞬态光
电导技术的补充,瞬态光电导技术也是本仪器的一个
标准技术。
QSSPC少子寿命测量也能得到暗开路电压
(与光照)的曲线,可与太阳能电池制程每
一阶段的IV曲线作比较。
WCT系统的功能
主要应用:一步一步地模拟和优化工厂制程
其他应用:
• 模拟原始材料的质量
• 检测硅片制程中的重金属污染
• 评估表面钝化和发射极掺杂扩散
• 使用implied I-V测量评估制程导致的分流
主要特性
• 单击即可锁定晶硅片的关键参数,包括方块电阻,少子寿命,陷阱密度,
发射极饱和电流密度和暗电压
• 经校准的载子寿命与注入水平的关系,已被各大学接受
WCT规格
仪器规格 设施要求
可测量参数:
• 少子寿命
• 电阻率
• 发射极饱和电流密度
• 陷阱浓度
• 标准太阳下Voc
寿命测量范围:
100ns-10ms
测量(分析)模式:
QSSPC,瞬态和归一化寿命分析
电阻率测量范围:
3-600(未掺杂) Ohms/sq
可得到的偏压范围:
0-50suns
典型的经过校准的注入范围:
1013-1016cm-3
可得到的光谱:
白光和红外光
感应范围:
直径40mm
样品尺寸,标准配置:
标准直径:40-210mm
更小的尺寸也可能量到
硅片厚度范围:
10-2000um(经校准过的)
其他厚度也可能量到
质保期:
所有配件和软件1年限
也可有服务协议
操作环境温度:
20-25℃
电力要求:
WCT-120:40W
电脑带显示器:200W
光源:60W
尺寸:
22.5 cm(宽)x28cm(深)x57cm
(高)
一般的电压:
100-240VAC 50/60Hz
特别的设施要求:

WCT系统配件
• WCT-120仪器,信号处理单元,信号线
• 可设计的闪光灯,带滤光片
• Windows PC带软件和显示器
• Sinton Instruments数据采集和分析软件包
• 高分辨率,告诉数据采集带同步采样和通用模式剔除
• Suns-Voc附件选项

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